中微子的質(zhì)量層次，CP違反和θ23的八分圓是中微子振蕩的基本未知數(shù)。 為了解決所有這三個未知數(shù)，我們研究了一個裝置的物理范圍，在該裝置中，我們用靜止的μ子衰減產(chǎn)生的中微子（μ-DAR）代替了T2HK的中微子運行。 這種方法的優(yōu)點是在中微子和反中微子模式下都具有較高的統(tǒng)計量，并且抗中微子運行的波束背景較低，系統(tǒng)性也有所降低。 我們發(fā)現(xiàn)，由T2HK（ν）和μ-DARνˉ$$ \ left（\ overline {\ nu} \ right）$$組成的混合設(shè)置以及來自T2K和NOνA的完全曝光可以解決以下問題： 質(zhì)量等級大于3σCL 無論選擇哪個層次，δCP和θ23。 這種混合設(shè)置還可以在5σC.L