我們提供并討論了ILC上W +W-γ產(chǎn)生的精度預(yù)測(cè)，包括標(biāo)準(zhǔn)模型中的完整電弱（EW）一環(huán)校正和高階初始狀態(tài)輻射（ISR）貢獻(xiàn)。 研究了前導(dǎo)階（LO）和EW校正截面對(duì)碰撞能量的依賴性。 我們發(fā)現(xiàn)電子束校正顯著抑制了LO截面，在閾值附近，超過(guò)O（α）的ISR效應(yīng)很重要，但在高能區(qū)可忽略不計(jì)。 我們提供了LO和EW校正的橫向矩的分布，以及最終W玻色子和光子的速度以及W對(duì)不變質(zhì)量。 從各種運(yùn)動(dòng)學(xué)分布中，我們發(fā)現(xiàn)電子戰(zhàn)校正很大程度上取決于最終狀態(tài)相空間。 我們通過(guò)采用窄寬度近似來(lái)研究最終W-玻色子對(duì)的輕子衰變，并且發(fā)現(xiàn)最終產(chǎn)生的光子和輕子可以很好地彼此分離。