B 0→D ?-τ+ντ角分布的重建由于從B和τ衰變中丟失中微子信息的強烈偏向效應而變得復雜。 在這項工作中，展示了一種在保持角度技術的模型獨立性的同時進行角度系數無偏測量的新穎方法。 除背景條件外，還使用封裝所有分辨率和接受效果的模板概率密度函數，以多維擬合對十二個描述信號衰減的角度函數進行了建模。 估計了LHCb和Belle II實驗的敏感性，并討論了系統不確定性的來源，特別是在外推法測量R（D ?）時。