我們更新了σtot，σelas，σinel，ρ和B的質(zhì)子-質(zhì)子和反質(zhì)子-質(zhì)子散射的高能數(shù)據(jù)的常規(guī)擬合和全面漸近擬合。這些擬合包括總質(zhì)子-質(zhì)子橫截面的新TOTEM值 ，ρ和B在W = s = 13 TeV時，在W = s = 95 TeV時總質(zhì)子-質(zhì)子截面的望遠(yuǎn)鏡陣列值以及在W = 8 TeV時無彈性截面的最新測量值得到的數(shù)據(jù)（ 由TOTEM和ATLAS提供）和13 TeV（由CMS，ATLAS和TOTEM提供）。 這項工作的一個重要的新功能是對數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，以包括ln（dσ/ dt）中的曲率對B值，t = 0時的dσ/ dt以及從較大的值外推獲得的σtot的影響。 t在測量微分截面時，效果顯