IEEE 1149.1 標準 邊界掃描/JTAG，即 IEEE/ANSI 標準1149.1_1190，是一套設計規則，可以在芯片級、板級和系統級簡化測試、器件編程和調試。該標準是聯合測試行動小組（JTAG）（由北美和歐洲的幾家公司組成）開發的。IEEE 1149.1標準最初是做為一種能夠延長現有自動測試設備（ATE）壽命的片上測試基礎結構而開發的。可以從Texas Instruments 邊界掃描頁面獲得更多信息。利用該標準整合測試設計，允許完全控制和接入器件的邊界引腳，而無需不易操作的或其它測試設備。每個符合JTAG要求的器件的輸入/輸出引腳上都包括一個邊界單元（如圖1所示）。正常情況下，它是透明的和停止運行的，允許信號正常通過。借助于測試模式下的器件，您可以采集輸入信號，以備后期分析之用；輸出信號可以影響板上的其它器件。