資源簡介
測試：就是檢測出生產過程中的缺陷，并挑出廢品的過程。 測試的基本情況：封裝前后都需要進行測試。 測試與驗證的區別：目的、方法和條件 測試的難點：復雜度和約束。 可測性設計：有利于測試的設計。
代碼片段和文件信息
?屬性????????????大小?????日期????時間???名稱
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?????文件????1072640??2004-03-04?19:11??集成電路測試\集成電路測試.ppt
?????目錄??????????0??2006-09-19?16:45??集成電路測試
?????文件????????218??2007-01-22?19:53??www.pudn.com.txt
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??????????????1072858????????????????????3
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?????文件????1072640??2004-03-04?19:11??集成電路測試\集成電路測試.ppt
?????目錄??????????0??2006-09-19?16:45??集成電路測試
?????文件????????218??2007-01-22?19:53??www.pudn.com.txt
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